CeVis
  1. Center of Complex Systems and Visualization
  2. Lehre
  3. Oberseminar

In dem regelmäßig stattfindenden Oberseminar tragen Gäste aus aller Welt über Forschungsarbeiten zu Themen vor, die mit der Arbeit von CeVis und MeVis in Verbindung stehen, und Mitarbeiter von CeVis und MeVis präsentieren ihre neusten Ergebnisse.


C(M)eVis-Oberseminar am 15.5.1998


Datum: Freitag, der 15.5.1998
Zeit: 16.00 Uhr
Ort: Seminarraum Mandelbrot
Referentin: Dr. Kathrin Berkner (Rice University, Houston, Texas)

DENOISING MIT NICHT-ORTHOGONALEN WAVELET SYSTEMEN

In vielen Anwendungen erzielen Verfahren, die auf nicht-orthogonalen Waveletsystemen basieren, bessere Ergebnisse, wie z.B. biorthogonale Wavelets in der Bildkompression. Viele Experimente in Denoising haben gezeigt, dass die Anwendung redundanter Waveletsysteme die Qualität des entrauschten Signals im Vergleich zu Denoising mittels orthogonaler Waveletsysteme erheblich verbessert. Allerdings wurde dabei beobachtet, dass eine Abweichung von dem klassischen Donoho-Johnstone Modell für die Schwellwertbilding notwendig war. Diese experimentellen Beobachtungen motivieren uns zu der Analyse, ob das Donoho-Johnstone Modell auf nicht-orthogonale Wavelet Systeme zu übertragen ist. Wir leiten eine Verallgemeinerung des Donoho-Johnstone Modells her, die zur Berechnung korrelationsabhängiger Schwellwerte führt. Diese Schwellwerte können der jeweiligen Wavelettransformation angepasst werden und bilden somit ein allgemeines Gerüst für Denoising mittels biorthogonaler und redundanter Waveletsysteme.


A. Rodenhausen